最近集成小电流24V测试，10串里面单颗芯片差异值在0.01V就回出现亮度不一致。电压低的芯片就比其他芯片亮，电压高的点亮后就比其他芯片暗。类似这种问题怎么解决亮度一致性不好。不考虑漏电打线问题。求同行参谋下。
单颗晶片的LED一般的分光机都可以测试其反向漏电（IR），但集成和COB就不行。究其原因无非就是多晶串并，即便是测出漏电，也无法确定是哪一颗晶片。据我所知，目前比较普遍的检测方法是低压检测法。就是用集成的启动电压来点亮，电性良好的产品里面的晶片会一起亮，且亮度均匀。而若某颗晶片存在漏电或者焊接不良的情况，那么这颗晶片在低电压的条件下就会呈现不亮、微亮或者闪烁的情况。不知道有没有不同的检测方法？
另外，说这个的原因就是想请教下，这种方法的原理是什么？有没有错判的可能？假如说晶片的启动电压本身就不同，是不是也会出现这种状况？目前我所遇到的情况就是，做30W的集成，时不时的会有那么一颗晶片在低压条件下不亮，可是这颗不亮的晶片从外观上又看不出任何不亮，烦恼之至！烦请诸位通晓缘由的同仁不吝赐教。
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