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    最近集成小电流24V测试,10串里面单颗芯片差异值在0.01V就回出现亮度不一致。电压低的芯片就比其他芯片亮,电压高的点亮后就比其他芯片暗。类似这种问题怎么解决亮度一致性不好。不考虑漏电打线问题。求同行参谋下。
    单颗晶片的LED一般的分光机都可以测试其反向漏电(IR),但集成和COB就不行。究其原因无非就是多晶串并,即便是测出漏电,也无法确定是哪一颗晶片。据我所知,目前比较普遍的检测方法是低压检测法。就是用集成的启动电压来点亮,电性良好的产品里面的晶片会一起亮,且亮度均匀。而若某颗晶片存在漏电或者焊接不良的情况,那么这颗晶片在低电压的条件下就会呈现不亮、微亮或者闪烁的情况。不知道有没有不同的检测方法?
    另外,说这个的原因就是想请教下,这种方法的原理是什么?有没有错判的可能?假如说晶片的启动电压本身就不同,是不是也会出现这种状况?目前我所遇到的情况就是,做30W的集成,时不时的会有那么一颗晶片在低压条件下不亮,可是这颗不亮的晶片从外观上又看不出任何不亮,烦恼之至!烦请诸位通晓缘由的同仁不吝赐教。
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